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專利侵權判斷

作者:張仁平

出版社:元照出版公司

出版日:2023/11

內容

  本書完整介紹發明及新型專利侵權判斷之理論及實務,內容充實深入,包括解釋請求項、文義侵權、均等侵權、均等論之限制事項、特殊態樣請求項之侵權判斷及專利侵權之抗辯等。

  在每個主要議題中,除了介紹國際上有關專利侵權判斷之規範及實務,包括美國、英國、德國、日本、中國大陸、歐洲專利公約、實質專利法條約等,另外比較其間之異同點,探討相關理論及實務問題。針對重要規範,並引述相關出處及重要內容,主要為美國法院相關判決,以利參考。

  本書適用對象廣泛,舉凡專利從業者(專利師、專利代理人、專利工程師、律師、智財及法務人員)之訴訟實務及研究參考,法院相關人員之審案參考,大專院校專利系所之課程教材等,皆可各取所需。

目錄


第一篇 台灣專利侵權判斷規範之演進
 第一章 第一次修訂/3
 第二章 第二次修訂/6
第二篇 專利侵權判斷流程
 第一章 1996年版「鑑定基準」流程圖/13
 第二章 2004年版「要點」流程圖/14
 第三章 2016年版「要點」流程圖/15
第三篇 解釋請求項(claim interpretation)
 第一章 解釋請求項之基本觀念/26
 第二章 該發明所屬技術領域中具有通常知識者/37
 第三章 解釋請求項之國際規範/50
 第四章 解釋請求項之原則/82
 第五章 解釋請求項之一般情形/103
 第六章 不同態樣請求項之解釋/116
第四篇 文義侵權(literal infringement)
 第一章 文義讀取與文義侵權/193
 第二章 台灣侵權判斷流程中有關「文義讀取」的演變/200
 第三章 限縮文義範圍之考量因素/201
 第四章 「實施先前技術」可否用於抗辯文義侵權?/203
 第五章 「申請歷史禁反言」可否用於抗辯文義侵權?/205
 第六章 逆均等論(reverse doctrine of equivalents)/206
第五篇 均等侵權
 第一章 均等論之由來/221
 第二章 國際組織對於均等論之調和/223
 第三章 各國有關均等論之發展及規範/228
 第四章 均等論之判斷/267
 第五章 均等侵權之實務問題/292
第六篇 均等論之限制事項
 第一章 基本觀念/299
 第二章 全要件原則(all-elements rule/all-limitations rule)/303
 第三章 申請歷史禁反言(prosecution history estoppel)/316
 第四章 先前技術阻卻/344
 第五章 貢獻原則/355
 第六章 請求項破壞原則(claim vitiation doctrine/claim vitiation rule)/375
 第七章 特定排除原則(specific exclusion principle)/388
第七篇 特殊態樣請求項之侵權判斷
 第一章 手段/步驟功能請求項/403
 第二章 數值請求項/410
第八篇 專利侵權之抗辯
 第一章 專利無效抗辯/469
 第二章 現有技術抗辯/481
 第三章 非商業目的之未公開行為抗辯/497
 第四章 研究或實驗抗辯/499
 第五章 先用權抗辯/502
 第六章 臨時過境抗辯/509
 第七章 善意被授權人抗辯/511
 第八章 權利耗盡抗辯/513
 第九章 復權公告前善意實施或準備者抗辯/517
 第十章 醫藥品研究試驗抗辯/518
 第十一章 混合醫藥品抗辯/522
第九篇 結 語/525

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