報告人:Peter Meier-Beck Presiding Judge of the German Federal Court of Justice 法官
發表日期:2015/8/28(五)
影片長度:00:34:40
講座名稱:申請專利範圍解釋之國際比較
【內容簡介】
引言
主講人:王美花/經濟部智慧財產局局長
謝銘洋/國立臺灣大學法律學院教授
講題一:美國申請專利範圍解釋
主持人:閻啟泰/中華民國專利師公會理事
主講人:Mr. James Yoon/Senior Partner of Wilson Sonsini Goodrich & Rosati and professor of Stanford University Law School
講題二:德國(歐洲)申請專利範圍解釋
主持人:汪漢卿/最高行政法院法官
主講人:Peter Meier-Beck/Presiding Judge of the German Federal Court of Justice
綜合論壇
主持人:王美花/經濟部智慧財產局局長
主講人:張哲倫/中華民國專利師公會副秘書長
與談人:Peter Meier-Beck
Mr. James Yoon
蔣大中/中華民國專利師公會理事長
蔡惠如/智慧財產法院庭長
劉法正/中華民國專利師公會專利師