主講人:謝銘洋   教授、Daniele Semino   博士、Christian Hannon   律師、Gary Ma   律師、曾啟謀   審判長、林國塘   組長、王仁君   理事、林景郁   秘書長

發表日期:2015/8/29(六)

影片長度:00:29:51

講座名稱:專利進步性之國際比較


【內容簡介】
講題一:進步性判斷之標準:歐盟實務運作與操作
主持人:李鎂/經濟部智慧財產局副局長
主講人:Dr. Daniele Semino/Technical Member and Deputy Chair of Boards of Appeal of the EPO
與談人:Honorable Judge Peter Meier-Beck
講題二:進步性判斷之標準:美國實務運作與操作
主持人:秦建譜/中華民國專利師公會監事
主講人:Mr. Christian Hannon/ Patent Attorney at USPTO
講題三:臺灣進步性判斷標準之過去及未來-IPO審查基準
主持人:宿希成/中華民國專利師公會常務監事
主講人:林國塘/經濟部智慧財產局組長
與談人:蔡如琪/智慧財產法院法官
講題四:USPTO PTAB審查程序及其對美國專利實務之影響
主持人:鍾文岳/中華民國專利師公會理事
主講人:Mr. Gary Ma/Partner of Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett & Dunner
與談人:Mr. Ryan Goldstein/Partner of Quinn Emanuel Urquhart & Sullivan
綜合論壇
主持人:謝銘洋/國立臺灣大學法律學院教授
與談人:Dr. Daniele Semino
    Mr. Christian Hannon
    Mr. Gary Ma
    曾啟謀/智慧財產法院審判長
    林國塘/經濟部智慧財產局組長
    王仁君/中華民國專利師公會理事
    林景郁/中華民國專利師公會秘書長
結語與展望
主講人:王美花/經濟部智慧財產局局長
    謝銘洋/國立臺灣大學法律學院教授
    蔣大中/中華民國專利師公會理事長


數位整合服務
產品服務
讀者服務專線:+886-2-23756688   傳真:+886-2-23318496   地址:臺北市館前路28號7樓

Copyright © 元照出版 All rights reserved. 版權所有,禁止轉貼節錄
TOP